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• Orts- und Frequenzraumverfahren zur quantitativen Analyse optischer Oberflächen Kratz, Frank Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Streulicht- und Rastermikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen Kumpe, Ralf Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997